Medición de Índice de Refracción por EELS - González Valenzuela, Ricardo Alonso
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Mediante el uso de un Microscopio Electrónico de Transmisión y por medio de la técnica de Espectroscopía de Pérdida de Energía de Electrones (EELS, por sus siglas en Inglés), es posible conocer la constante dieléctrica en materiales cerámicos trasparentes. La constante dieléctrica es directamente proporcional al índice de refracción, por lo que esta técnica permite conocer dicho dato óptico sin necesidad de utilizar tecnologías láser o algún otro tipo de luz para su medición. Además, esta tecnología sólo requiere un tamaño de muestra muy pequeño y puede estar en estado pulverizado, por lo que…mehr

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Produktbeschreibung
Mediante el uso de un Microscopio Electrónico de Transmisión y por medio de la técnica de Espectroscopía de Pérdida de Energía de Electrones (EELS, por sus siglas en Inglés), es posible conocer la constante dieléctrica en materiales cerámicos trasparentes. La constante dieléctrica es directamente proporcional al índice de refracción, por lo que esta técnica permite conocer dicho dato óptico sin necesidad de utilizar tecnologías láser o algún otro tipo de luz para su medición. Además, esta tecnología sólo requiere un tamaño de muestra muy pequeño y puede estar en estado pulverizado, por lo que no es necesario contar con un cristal de las proporciones de laboratorio para mediciones ópticas convencionales.
Autorenporträt
Doctorado en Ciencia de Materiales por el Centro de Investigación en Materiales Avanzados (2008).Maestría en Ciencia de Materiales por el Centro de Investigación en Materiales Avanzados (2000).Ingeniería Electromecánica por el Instituto Tecnológico de Chihuahua (1995).17 años de experiencia en la industria en el diseño de componentes ópticos.