In dit proefschrift worden aanbevelingen gedaan voor verbeteringen in de methodologie voor de selectie van meetsystemen. Het basisprincipe van de oorspronkelijke methodologie is de samenstelling van twee fasen: de "vraag" (reeks parameters die de meettaak karakteriseren) en de fase van het "selectieproces" (bestaande uit technische, logistieke en economische informatie, geformuleerd in evaluatiespreadsheets, uit de evaluatiecriteria met specifieke door de metroloog bepaalde gewichten en uit de vergelijkende analyse van de kandidaat-systemen). In dit werk wordt de methode beschreven en worden aanbevelingen gedaan met een meer oordeelkundig accent, gebaseerd op theorieën en bibliografische aanbevelingen van verschillende auteurs, alsmede normatieve aanbevelingen, waaronder de suggesties: toevoeging van selectieparameters (metrologische eisen), de implementatie van het systeem voor metrologische kwaliteitsborging, het verwerven van informatie uit de metrologische eisen, systemische visie op het metrologische kwaliteitsproces, audit en interlaboratoriumprogramma's, en het verwerven en bijhouden van de informatie uit de meetsystemen en ijkingen, zijnde alle aanbevelingen gericht op de vereiste conformiteit van het meetproces.
Hinweis: Dieser Artikel kann nur an eine deutsche Lieferadresse ausgeliefert werden.
Hinweis: Dieser Artikel kann nur an eine deutsche Lieferadresse ausgeliefert werden.