Grigorij Chigir', Anatolij Belous, Arkadij Turcewich

Metody powysheniq nadözhnosti mikroshem na osnowe testowyh struktur

Osnowy uprawleniq kachestwom integral'nyh mikroshem

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Produktbeschreibung

V monografii detal'no rassmotrena sistema testowogo kontrolq kachestwa tehnologicheskogo processa izgotowleniq mikroshem, procedura obrabotki dannyh i modelirowaniq wyhoda godnyh kristallow IMS. Osoboe znachenie udeleno metodam ocenki nadezhnosti kristallow mikroshem w sostawe plastin na ätape tehnologicheskogo processa izgotowleniq IMS, pozwolqüschih optimizirowat' processy i obespechit' wysokij urowen' nadezhnosti korpusirowannyh mikroshem. Priwedeny rezul'taty issledowanij nadözhnosti mnogoslojnyh tonkoplönochnyh sistem metallizacii, konkretnye rezul'taty prakticheskogo primeneniq rqda metodow wyqwleniq i otbrakowki korpusirowannyh mikroshem so skrytymi defektami: analiz dinamicheskogo toka potrebleniq, wozdejstwiq impul'sow staticheskogo älektrichestwa, termociklirowaniq, powyshennogo naprqzheniq pitaniq. Kniga prednaznachena dlq specialistow älektronnoj i radioälektronnoj promyshlennosti, a takzhe studentow i aspirantow wuzow sootwetstwuüschej special'nosti.

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Produktdetails

• Verlag: LAP LAMBERT Academic Publishing
• Seitenzahl: 248
• Erscheinungstermin: 6. April 2012
• Russisch
• Abmessung: 220mm x 150mm x 15mm
• Gewicht: 387g
• ISBN-13: 9783848431076
• ISBN-10: 3848431076
• Artikelnr.: 62785808

Autorenporträt

Grigorij Chigir', kandidat tehnicheskih nauk, rukowoditel' laboratorii «Belmikroanaliz», g.Minsk, Belarus'. //Anatolij Belous, professor, zamestitel' direktora po nauke OAO «INTEGRAL», g.Minsk, Belarus'. //Arkadij Turcewich, doktor tehnicheskih nauk, glawnyj inzhener OAO «INTEGRAL», g.Minsk, Belarus'.