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Ao longo da última década, o projeto de integração em escala muito grande, de baixa potência e eficiência energética, tem sido o ponto focal para a pesquisa e desenvolvimento ativo. A rápida escala da tecnologia, a crescente capacidade de integração e a dissipação de energia vazada são os fatores que contribuem para o aumento da complexidade do design moderno das LSV. A escala de tensão é uma das formas mais eficientes para reduzir a energia e a potência nos circuitos VLSI. Devido à tensão limite reduzida, a velocidade de comutação torna-se mais rápida, a corrente de fuga activa é aumentada. Uma técnica para gerenciar dinamicamente a corrente de fuga ativa, que reduz a dissipação de energia nos circuitos VLSI em diferentes circuitos com diferentes níveis de complexidade, é necessária. À medida que a tecnologia se adapta ao regime de tecnologia sub-micron profunda, a potência de fuga sub-limiar aumenta exponencialmente com a redução da tensão limite. Portanto, técnicas eficazes de minimização de vazamento e de potência dinâmica se tornam necessárias.