Os MEMS (Micro Electro Mechanical Systems) compõem uma tecnologia que tem ganhado destaque nas últimas décadas e sua difusão reflete um constante crescimento tanto em aplicações quanto em volume financeiro envolvido. Os produtos desta tecnologia representam um mercado emergente e que movimenta bilhões de dólares anuais. Contudo, há de se considerar a crescente exigência no quesito qualidade por parte daqueles que a utilizam. Este trabalho objetiva investigar um modelo matemático que expresse uma dinâmica próxima daquela observada em MEMS, visando contribuir para agilidade e qualidade dos testes.