52,99 €
inkl. MwSt.
Versandkostenfrei*
Versandfertig in 1-2 Wochen
payback
26 °P sammeln
  • Broschiertes Buch

V monografii razrabotana samosoglasowannaq statisticheskaq älek-tronnaq model' ionnoj reshetki diälektrikow w formalizme metoda funk-cionala älektronnoj plotnosti. Na ätoj osnowe issledowany rekonstruk-tiwnye fazowye prewrascheniq, protekaüschie w kristallah w äxtremal'nyh uslowiqh wysokih dawlenij i temperatur (polimorfnye prewrascheniq, metallizaciq diälektrikow pri wysokih dawleniqh). Rassmatriwaetsq rqd razmernyh äffektow, woznikaüschih pri fazowyh prewrascheniqh w kristallah malyh razmerow (100 angstrem i men'she). Teoreticheski predskazywaetsq wozmozhnost' suschestwowaniq otricatel'nyh…mehr

Produktbeschreibung
V monografii razrabotana samosoglasowannaq statisticheskaq älek-tronnaq model' ionnoj reshetki diälektrikow w formalizme metoda funk-cionala älektronnoj plotnosti. Na ätoj osnowe issledowany rekonstruk-tiwnye fazowye prewrascheniq, protekaüschie w kristallah w äxtremal'nyh uslowiqh wysokih dawlenij i temperatur (polimorfnye prewrascheniq, metallizaciq diälektrikow pri wysokih dawleniqh). Rassmatriwaetsq rqd razmernyh äffektow, woznikaüschih pri fazowyh prewrascheniqh w kristallah malyh razmerow (100 angstrem i men'she). Teoreticheski predskazywaetsq wozmozhnost' suschestwowaniq otricatel'nyh znachenij powerhnostnoj änergii i powerhnostnogo natqzheniq w uslowiqh swerhwysokih wsestoronnih szhatij weschestwa. Osoboe wnimanie udelqetsq modelirowaniü fazowyh perehodow w kristallah pri wysokih temperaturah s ispol'zowaniem metoda mo-lekulqrnoj dinamiki. Dlq nauchnyh i inzhenerno-tehnicheskih rabotnikow, prepodawatelej, aspirantow i studentow wuzow.
Autorenporträt
Karpenko Sergej Valentinowich, kandidat fiz.-mat. nauk, docent, professor RAE. Zaweduüschij otdelom Teoreticheskoj i matematicheskoj fiziki NII prikladnoj matematiki i awtomatizacii Kabardino-Balkarskogo nauchnogo centra RAN. Interesy lezhat w oblasti izucheniq powedeniq kondensirowannogo weschestwa w uslowiqh wysokointensiwnyh wozdejstwij.