Andere Kunden interessierten sich auch für
![Jenergo-änergeticheskij analiz gibridnogo cikla pitaniq i ohlazhdeniq na osnowe SOFC]( "Jenergo-änergeticheskij analiz gibridnogo cikla pitaniq i ohlazhdeniq na osnowe SOFC")
Jenergo-änergeticheskij analiz gibridnogo cikla pitaniq i ohlazhdeniq na osnowe SOFC13,99 €![Razrabotka tehnologii izgotowleniq otliwok iz zharoprochnyh splawow]( "Razrabotka tehnologii izgotowleniq otliwok iz zharoprochnyh splawow")
Razrabotka tehnologii izgotowleniq otliwok iz zharoprochnyh splawow13,99 €![Kinetika kristallizacii otliwok iz äwtekticheskih splawow]( "Kinetika kristallizacii otliwok iz äwtekticheskih splawow")
Kinetika kristallizacii otliwok iz äwtekticheskih splawow42,99 €![Sposoby obespecheniq kachestwa otliwok pri lit'e pod dawleniem]( "Sposoby obespecheniq kachestwa otliwok pri lit'e pod dawleniem")
Sposoby obespecheniq kachestwa otliwok pri lit'e pod dawleniem35,99 €![Modelirowanie i uprawlenie processom shlifowaniq]( "Modelirowanie i uprawlenie processom shlifowaniq")
Modelirowanie i uprawlenie processom shlifowaniq39,99 €![Chislennoe modelirowanie processow korrozii w gorqchih metallah, obrabotannyh dawleniem]( "Chislennoe modelirowanie processow korrozii w gorqchih metallah, obrabotannyh dawleniem")
Chislennoe modelirowanie processow korrozii w gorqchih metallah, obrabotannyh dawleniem32,99 €![Modelirowanie gidromehanicheskih sistem tehnologicheskih mashin]( "Modelirowanie gidromehanicheskih sistem tehnologicheskih mashin")
Modelirowanie gidromehanicheskih sistem tehnologicheskih mashin32,99 €
Cel'ü issledowatel'skoj raboty qwlqetsq issledowanie wliqniq tehnologicheskih faktorow i äkzotermicheskogo obogrewa na obrazowanie defektow w uslowiqh lit'q po wyplawlqemym modelqm (LVM) posredstwom sistemy komp'üternogo modelirowaniq (SKM) LVMFlow. Zadachami issledowaniq qwlqetsq: Vybor racional'noj metodiki wyqwleniq defektow w uslowiqh LVM. Ustanowlenie swqzi mezhdu parametrami tehnologicheskogo processa i obrazowaniem defektow. Vyqwlenie pri pomoschi SKM LVMFlow naibolee harakternye mest obrazowaniq defektow po bazowomu wariantu.