Zebrew Gennadij Iwanowich

Modelirowanie radiacionnyh äffektow w kremniewyh integral'nyh shemah

Dozowye i odinochnye ionizacionnye äffekty w KMOP cifrowyh i analogowyh integral'nyh shemah sowremennyh tehnologij

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Produktbeschreibung

Kniga poswqschena modelirowaniü processow degradacii i dozowyh (TID) i odinochnyh (SEE) radiacionnyh äffektow w sowremennyh kremniewyh SBIS pri wozdejstwii ioniziruüschih izluchenij. Opisany fizicheskie mehanizmy dozowoj degradacii w integral'nyh älementah KMOP i bipolqrnyh tehnologij. Glawnoe wnimanie udeleno modelirowaniü treh osnownyh radiacionnyh äffektow, tipichnyh dlq bortowoj älektroniki kosmicheskih apparatow.(1)Radiacionno- inducirowannaq kraewaq utechka w cifrowyh älementah KMOP tehnologij, wklüchaq tehnologii «kremnij-na- izolqtore».(2)Shemotehnicheskoe modelirowanie harakteristik i metody raschetow intensiwnostej odinochnyh sboew (SER) i otkazow, wyzwannyh odinochnymi chasticami kosmicheskih izluchenij. (3) Modelirowanie äffekta usileniq degradacii pri nizkointensiwnom obluchenii (ELDRS), harakternogo dlq priborow bipolqrnyh tehnologij. Kniga w znachitel'noj stepeni osnowana na rabotah samogo awtora, opublikowannyh za poslednie 5 let w weduschih mirowyh zhurnalah.

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Produktdetails

• Verlag: LAP LAMBERT Academic Publishing
• Seitenzahl: 132
• Erscheinungstermin: 1. Juni 2011
• Russisch
• Abmessung: 220mm x 150mm x 8mm
• Gewicht: 215g
• ISBN-13: 9783843316118
• ISBN-10: 3843316112
• Artikelnr.: 62704367

Autorenporträt

D.t.n., professor kafedry mikro- i nanoälektroniki Nacional'nogo issledowatel'skogo qdernogo uniwersiteta «MIFI», specialist w oblasti fiziki i modelirowaniq nanoälektronnyh struktur i radiacionnyh äffektow w mikroälektronnyh komponentah. Awtor bolee 100 statej, neskol'kih uchebnyh posobij i glaw w monografiqh.