Modellazione del cantilever AFM

Modellazione del cantilever AFM

Dinamica di un micro cantilever

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La microscopia a forza atomica (AFM) può essere utilizzata per la caratterizzazione di superfici su scala atomica e nanometrica in ambienti sia liquidi che aerei. L'AFM è fondamentalmente utilizzata per misurare le proprietà meccaniche, chimiche e biologiche del campione in esame. L'AFM contiene fondamentalmente un microcantilever eccitato dalla base con una nano-punta e un circuito di rilevamento per la scansione delle immagini. La progettazione e l'analisi di questi microcantili sono un compito impegnativo nella pratica in tempo reale. Nel presente lavoro, si considera la progettazione e ...