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Die zunehmende Verbreitung von Elektronik im Alltag und die weitere Verringerung der Strukturgrößen stellen neue Anforderungen an die Zuverlässigkeit und Verfügbarkeit integrierter Schaltungen. Die Arbeit zeigt ein systematisches Vorgehen zur Modellierung des funktionalen Schaltungsverhaltens und ergänzt es um neue Verfahren zur Berücksichtigung zuverlässigkeitsrelevanter Schaltungseigenschaften. Etablierte Verfahren aus der Mechanik zur Behandlung der Zuverlässigkeit werden auf die Degradationseffekte integrierter Halbleiterbauelemente angewandt. Entsprechende Lebensdauermodelle zu relevanten Degradationsmechanismen sind dargestellt. Ausgehend davon werden allgemeine Maße zur Zuverlässigkeitsbewertung von Bauelementen unter Anwendungsbedingungen abgeleitet. Die Diskussion von Methoden zur Analyse der Zuverlässigkeit ganzer Schaltungen im Entwurf rundet die Darstellung ab. Die entwickelten Verfahren dienen der Unterstützung eines schnellen und fehlerfreien Entwurfs sicherer und zuverlässiger Schaltungen. Die Optimierung einer Schaltung hinsichtlich ihres Alterungsverhaltens verdeutlicht diesen Nutzen.