Multi-Level-Modellierung mit formaler Beobachtung und Bewertung von Modulen eines Testsystems für integrierte Schaltungen
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Erweiterte Anforderungen im Hochfrequenzbereich, bei der Pinzahl und Testpatterngröße verlangen ein neues Konzept beim Entwurf von Testsystemen für integrierte Schaltungen. In dieser Arbeit wird ein integriertes Datenhaltungssystem für Testsystemkomponenten, Komponentenmodelle sowie Benchmarkergebnisse dieser Komponenten im Systemarchitektur-Kontext entwickelt. Ein weiterer Hauptbestandteil sind formal spezifizierte Beobachtermodule, die je nach Fragestellung automatisch synthetisiert werden. Die Ergebnisse, die auf diese Art simulativ ermittelt werden, dienen als Bewertungskriterien für ...
Erweiterte Anforderungen im Hochfrequenzbereich, bei der Pinzahl und Testpatterngröße verlangen ein neues Konzept beim Entwurf von Testsystemen für integrierte Schaltungen. In dieser Arbeit wird ein integriertes Datenhaltungssystem für Testsystemkomponenten, Komponentenmodelle sowie Benchmarkergebnisse dieser Komponenten im Systemarchitektur-Kontext entwickelt. Ein weiterer Hauptbestandteil sind formal spezifizierte Beobachtermodule, die je nach Fragestellung automatisch synthetisiert werden. Die Ergebnisse, die auf diese Art simulativ ermittelt werden, dienen als Bewertungskriterien für die Systemarchitektur. Als Modellierungssprache für die Komponentenmodelle und Beobachter wird VHDL-AMS verwendet, zur formalen Spezifikation der Beobachter wird in der Arbeit eine an CTL angelehnte Sprache entwickelt. Als Beispiele werden Modelle mit und ohne Gedächtnis, jeweils analog, digital oder mixed-Signal betrachtet. Dabei werden Modelle, die Daten auf verschiedenen physikalischen Domänen bereitstellen, beobachtet und bewertet. Insgesamt wird ein Iterationzyklus ermöglicht, der den Entwurf von Testsystemen wesentlich erleichtert.