My predlagaem nowyj masshtabiruemyj podhod dlq snizheniq ChR wo wremq skorostnogo testirowaniq posledowatel'nyh shem so skaniruüschim LBIST s ispol'zowaniem shemy "zapusk na zahwat". Jeto dostigaetsq za schet snizheniq koäfficienta aktiwnosti CUT putem sootwetstwuüschej modifikacii testowyh wektorow, generiruemyh LBIST posledowatel'nyh IS. Generirowanie znachitel'nogo padeniq moschnosti (PD) wo wremq testirowaniq na skorosti, wypolnqemogo Logic Built-In Self Test (LBIST), qwlqetsq ser'eznoj problemoj dlq sowremennyh IS.
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