Richard Arinero

Nanomecanique par microscopie a force atomique en mode contact vibrant

Microscopie a force atomique en mode contact vibrant et application a l'etude des proprietes elastiques a l'echelle nanometrique

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Produktbeschreibung

La microscopie a force atomique (AFM) en mode contact vibrant est sensible aux propriétés élastiques des matériaux. L'objectif de ce travail est d'obtenir des informations quantitatives (les modules élastiques) à partir des images AFM. La partie théorique consiste en une mise en équation de la mécanique du levier et en l'étude des déformations élastiques du système pointe-échantillon. D'un point de vue expérimental, la réussite de notre approche provient de l'excitation des leviers par une force électrostatique, et d'un étalonnage de la fréquence de résonance sur des matériaux aux propriétés connues. Nous avons appliqué les méthodes précédentes pour mesurer l'élasticité des constituants sub-microscopiques de la paroi cellulaire du bois. Par un traitement mathématique des images AFM obtenues à une fréquence unique, nous avons développé une méthode qui donne directement des images de l'élasticité absolue et des pertes visqueuses.

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Produktdetails

• Verlag: Éditions universitaires européennes
• Seitenzahl: 140
• Erscheinungstermin: 5. Juli 2010
• Französisch
• Abmessung: 220mm x 150mm x 9mm
• Gewicht: 227g
• ISBN-13: 9786131502293
• ISBN-10: 6131502293
• Artikelnr.: 29502503

Autorenporträt

Dr Richard Arinero a obtenu sa thèse de doctorat en physique dela matière condensée, à l¿Université Montpellier 2, en 2003.Depuis 2004, il est Maître de Conférences à la faculté dessciences de Montpellier. Il est spécialiste de la Microscopie àForce atomique et effectue ses activités de recherche àl¿Institut d¿Electronique du Sud (IES).