Nanomecanique par microscopie a force atomique en mode contact vibrant
Microscopie a force atomique en mode contact vibrant et application a l'etude des proprietes elastiques a l'echelle nanometrique
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La microscopie a force atomique (AFM) en mode contact vibrant est sensible aux propriétés élastiques des matériaux. L'objectif de ce travail est d'obtenir des informations quantitatives (les modules élastiques) à partir des images AFM. La partie théorique consiste en une mise en équation de la mécanique du levier et en l'étude des déformations élastiques du système pointe-échantillon. D'un point de vue expérimental, la réussite de notre approche provient de l'excitation des leviers par une force électrostatique, et d'un étalonnage de la fréquence de résonance sur des matér...
La microscopie a force atomique (AFM) en mode contact vibrant est sensible aux propriétés élastiques des matériaux. L'objectif de ce travail est d'obtenir des informations quantitatives (les modules élastiques) à partir des images AFM. La partie théorique consiste en une mise en équation de la mécanique du levier et en l'étude des déformations élastiques du système pointe-échantillon. D'un point de vue expérimental, la réussite de notre approche provient de l'excitation des leviers par une force électrostatique, et d'un étalonnage de la fréquence de résonance sur des matériaux aux propriétés connues. Nous avons appliqué les méthodes précédentes pour mesurer l'élasticité des constituants sub-microscopiques de la paroi cellulaire du bois. Par un traitement mathématique des images AFM obtenues à une fréquence unique, nous avons développé une méthode qui donne directement des images de l'élasticité absolue et des pertes visqueuses.
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