15,99 €
inkl. MwSt.

Versandfertig in 1-2 Wochen
payback
8 °P sammeln
  • Broschiertes Buch

V ätoj knige rassmatriwaütsq temy mashinnogo obucheniq.Za poslednie neskol'ko desqtiletij tehnologicheskij progress w oblasti hraneniq dannyh i wychislitel'noj moschnosti pozwolil sozdat' rqd innowacionnyh produktow, osnowannyh na mashinnom obuchenii, takih kak rekomendatel'naq sistema Netflix i samodwizhuschiesq awtomobili.Mashinnoe obuchenie qwlqetsq wazhnym komponentom razwiwaüschejsq oblasti nauki o dannyh. S pomosch'ü statisticheskih metodow algoritmy obuchaütsq delat' klassifikacii i prognozy, a takzhe wyqwlqt' klüchewye momenty w proektah po dobyche dannyh. Vposledstwii äti wywody…mehr

Produktbeschreibung
V ätoj knige rassmatriwaütsq temy mashinnogo obucheniq.Za poslednie neskol'ko desqtiletij tehnologicheskij progress w oblasti hraneniq dannyh i wychislitel'noj moschnosti pozwolil sozdat' rqd innowacionnyh produktow, osnowannyh na mashinnom obuchenii, takih kak rekomendatel'naq sistema Netflix i samodwizhuschiesq awtomobili.Mashinnoe obuchenie qwlqetsq wazhnym komponentom razwiwaüschejsq oblasti nauki o dannyh. S pomosch'ü statisticheskih metodow algoritmy obuchaütsq delat' klassifikacii i prognozy, a takzhe wyqwlqt' klüchewye momenty w proektah po dobyche dannyh. Vposledstwii äti wywody stanowqtsq osnowoj dlq prinqtiq reshenij w prilozheniqh i biznese, chto w ideale wliqet na klüchewye pokazateli rosta. Po mere dal'nejshego rasshireniq i rosta ob#ema bol'shih dannyh na rynke budet rasti spros na specialistow po analizu dannyh. Oni dolzhny budut pomogat' opredelqt' naibolee aktual'nye woprosy biznesa i dannye dlq otweta na nih.
Hinweis: Dieser Artikel kann nur an eine deutsche Lieferadresse ausgeliefert werden.
Autorenporträt
D-r A. Viqq Krishna qwlqetsq docentom kafedry CST. Zaschitil doktorskuü dissertaciü w Uniwersitete VIT, Vellore. Imeet stepeni bakalawra tehnicheskih nauk uniwersiteta J.N.T.U.A. i magistra tehnicheskih nauk uniwersiteta J.N.T.U.A. Opublikowal okolo 10 nauchnyh rabot w rqde zhurnalow SCI, SCOPUS, Springer i IEEE.