Obzor razlichnyh metodow izmereniq deformacii s prilozheniqmi - Agnes Shifani, S.;Ramkumar, G.;Hemawathi, A.
13,99 €
inkl. MwSt.

Versandfertig in über 4 Wochen
payback
7 °P sammeln
  • Broschiertes Buch

Stat'q znakomit s ponqtiem deformacii i izmereniem deformacii. Dalee rassmatriwaütsq razlichnye widy deformacii s formulami. Kratko rasskazywaetsq o razlichnyh metodah izmereniq deformacii: tenzometriq, ispytanie na rastqzhenie, vic-2d, wolokonnaq reshetka, cifrowaq ob#emnaq korrelqciq, metod cifrowoj spekl-korrelqcii, cifrowaq korrelqciq izobrazhenij. Dat' obzor o cifrowoj korrelqcii izobrazhenij i izmerenii deformacii s pomosch'ü DIC.

Andere Kunden interessierten sich auch für
Produktbeschreibung
Stat'q znakomit s ponqtiem deformacii i izmereniem deformacii. Dalee rassmatriwaütsq razlichnye widy deformacii s formulami. Kratko rasskazywaetsq o razlichnyh metodah izmereniq deformacii: tenzometriq, ispytanie na rastqzhenie, vic-2d, wolokonnaq reshetka, cifrowaq ob#emnaq korrelqciq, metod cifrowoj spekl-korrelqcii, cifrowaq korrelqciq izobrazhenij. Dat' obzor o cifrowoj korrelqcii izobrazhenij i izmerenii deformacii s pomosch'ü DIC.
Autorenporträt
A Sra. S. Agnes Shifani trabalha actualmente como professora assistente no Departamento de Engenharia Electrónica e de Comunicação, Jeppiaar Maamallan Engineering College, Chennai. Ela tem 8 anos de experiência de ensino e faz a sua investigação em Processamento de Imagem. Tem várias publicações em Conferências Nacionais e Internacionais.