18,99 €
inkl. MwSt.
Versandfertig in 6-10 Tagen
9 °P sammeln
Andere Kunden interessierten sich auch für
![Sistema distancionnogo monitoringa]( "Sistema distancionnogo monitoringa")
Sistema distancionnogo monitoringa32,99 €![Powedenie äxitonow w asimmetrichnyh nanoobolochkah]( "Powedenie äxitonow w asimmetrichnyh nanoobolochkah")
Powedenie äxitonow w asimmetrichnyh nanoobolochkah13,99 €![Nanogranica]( "Nanogranica")
Nanogranica39,99 €![Dusha i razum (matematicheskij analiz)]( "Dusha i razum (matematicheskij analiz)")
Dusha i razum (matematicheskij analiz)23,99 €![Jesse o swete]( "Jesse o swete")
Jesse o swete13,99 €![Swqzannye reshetki logisticheskih kart s obratnoj swqz'ü i zapazdywaniem po wremeni]( "Swqzannye reshetki logisticheskih kart s obratnoj swqz'ü i zapazdywaniem po wremeni")
Swqzannye reshetki logisticheskih kart s obratnoj swqz'ü i zapazdywaniem po wremeni13,99 €![Zelenyj sintez CeO2:Cr3+ i ZrO2:Fe3+ Strukturnye i PL-issledowaniq]( "Zelenyj sintez CeO2:Cr3+ i ZrO2:Fe3+ Strukturnye i PL-issledowaniq")
Zelenyj sintez CeO2:Cr3+ i ZrO2:Fe3+ Strukturnye i PL-issledowaniq29,99 €
Tonkie plenki CuS s gexagonal'ü uspeshno osazhdaütsq na steklqnnuü podlozhku putem termicheskogo soprqzheniq medi i sery. Issledowano i obsuzhdeno wliqnie tolschiny plenki CuS na strukturnye i opticheskie swojstwa. Strukturnye i opticheskie issledowaniq plenok prowodilis' metodom rentgenowskoj difrakcii, atomno-silowoj mikroskopii, transmissionnoj älektronnoj mikroskopii wysokogo razresheniq i UF-spektroskopii. Rezul'taty rentgenografii i TJeM podtwerzhdaüt, chto osazhdennye plenki qwlqütsq gexagonal'nymi kowellitowymi CuS plenkami. Uwelichenie razmera kristallita pogloschaetsq pri uwelichenii tolschiny plenki s 100 nm do 200 nm i sootwetstwuet rezul'tatam issledowanij XRD i AFM. Osazhdennye plenki takzhe obladaüt horoshimi opticheskimi swojstwami, chto delaet ih prigodnymi dlq ispol'zowaniq w fototermicheskom preobrazowanii solnechnoj änergii.