Patent- und Gebrauchsmusterverletzung - Hahn, Tobias; Richter, Stefan
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Produktdetails
  • Schriftenreihe der Hagen Law School
  • Verlag: BWV - Berliner Wissenschafts-Verlag
  • 3., überarb. Aufl.
  • Seitenzahl: 123
  • Erscheinungstermin: 30. Juni 2014
  • Deutsch
  • Abmessung: 210mm x 149mm x 6mm
  • Gewicht: 176g
  • ISBN-13: 9783830533573
  • ISBN-10: 3830533578
  • Artikelnr.: 40973720
  • Herstellerkennzeichnung
    • Die Herstellerinformationen sind derzeit nicht verfügbar.
Autorenporträt
Tobias Hahn obtained his doctorate at the Chair of Information and Communication Management at the Technische Universität Berlin. He currently works in the division of business transformation for a leading integrated telecommunications group.