Andere Kunden interessierten sich auch für
![Procesamiento de películas ferroeléctricas PT y PZT mediante CVD-AA]( "Procesamiento de películas ferroeléctricas PT y PZT mediante CVD-AA")
Procesamiento de películas ferroeléctricas PT y PZT mediante CVD-AA32,99 €![Efecto del sombreado en celdas y módulos fotovoltaicos de silicio]( "Efecto del sombreado en celdas y módulos fotovoltaicos de silicio")
Efecto del sombreado en celdas y módulos fotovoltaicos de silicio26,99 €![Respuesta Óptica No Lineal de Tercer Orden en Películas Orgánicas]( "Respuesta Óptica No Lineal de Tercer Orden en Películas Orgánicas")
Respuesta Óptica No Lineal de Tercer Orden en Películas Orgánicas19,99 €![Determinación de exponentes críticos en películas delgadas]( "Determinación de exponentes críticos en películas delgadas")
Determinación de exponentes críticos en películas delgadas25,99 €![Aplicaciones potenciales de películas delgadas de óxidos de Ce y La]( "Aplicaciones potenciales de películas delgadas de óxidos de Ce y La")
Aplicaciones potenciales de películas delgadas de óxidos de Ce y La48,99 €![Láser de estado sólido para la preparación de películas superconductoras de óxido]( "Láser de estado sólido para la preparación de películas superconductoras de óxido")
Láser de estado sólido para la preparación de películas superconductoras de óxido25,99 €![Electrocromismo en películas delgadas de óxidos de hierro]( "Electrocromismo en películas delgadas de óxidos de hierro")
Electrocromismo en películas delgadas de óxidos de hierro39,99 €
Actualmente, el Silicio es en uno de los materiales más importantes en la industria de la electrónica. Sin embargo, el carburo de silicio (SiC) presenta en gran medida propiedades que superan por mucho al silicio en dispositivos a altas temperaturas. Desde 1998, el uso de este material de manera comercial principalmente en dispositivos basados en SiC ha aumentado considerablemente, debido a la necesidad de obtener dispositivos electrónicos capaces de operar a altas temperaturas y soportar altos campos eléctricos. Este libro permite dar un panorama más amplio de las propiedades ópticas y estructurales del PSiC. Los innovadores resultados encontrados en este trabajo, permiten desarrollar una metodología de caracterización del PSiC mediante técnicas no destructivas y de no contacto, que permiten dar información de la muestra sobre pequeños volúmenes de forma rápida.