Depuis des décennies, le sulfure de cuivre est considéré comme le matériau optique et semi-conducteur le plus performant. Nous avons tenté de préparer des films minces de CuS par une simple méthode de dépôt en bain chimique. Les échantillons préparés ont été caractérisés par XRD, UV et PL pour identifier et étudier leurs propriétés structurelles, optiques et électriques. Lesrésultats de l'analyse XRD ont confirmé la formation de CuS de phase Covellite. Les propriétés optiques ont été étudiées et le matériau présente une bande interdite comprise entre 1,6 eV et 1,2 eV. La caractérisation PL et électrique de l'échantillon a été étudiée et discutée en détail dans cet ouvrage.
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