Recorte universal de resistencias de película gruesa de polímero - Busi, Ram Babu; Srinivasa Rao, Y.; Satyanarayana, T.
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Las resistencias de película gruesa de polímero (PTF) se utilizan eficazmente desde hace muchos años en bienes de consumo como temporizadores, controles de motores, ordenadores y una amplia variedad de equipos de alto rendimiento. El potencial de esta tecnología sólo ha alcanzado a una pequeña parte del mercado; todo su potencial está aún por determinar. La relación ahorro-coste de las resistencias impresas debe considerarse teniendo en cuenta el diseño y el número de resistencias impresas. Al minimizar las operaciones de impresión, se controlarán eficazmente los costes de las resistencias.…mehr

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Produktbeschreibung
Las resistencias de película gruesa de polímero (PTF) se utilizan eficazmente desde hace muchos años en bienes de consumo como temporizadores, controles de motores, ordenadores y una amplia variedad de equipos de alto rendimiento. El potencial de esta tecnología sólo ha alcanzado a una pequeña parte del mercado; todo su potencial está aún por determinar. La relación ahorro-coste de las resistencias impresas debe considerarse teniendo en cuenta el diseño y el número de resistencias impresas. Al minimizar las operaciones de impresión, se controlarán eficazmente los costes de las resistencias. Los rangos resistivos del material de película gruesa van de 1 ohm a 10 Mega Ohm. Se pueden conseguir muchos valores de resistencias con la misma década de pastas de resistencias. La potencia nominal de la resistencia impresa es proporcional a la superficie geométrica y depende en gran medida de la selección del sustrato. La posibilidad de imprimir las resistencias y enterrarlas en la multicapa dará a los ingenieros de diseño más flexibilidad en la densidad de circuitos activos.
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Autorenporträt
Dr. B. Ram Babu, Ph.D., ist derzeit Professor im Fachbereich EIE am LBR College of Engg, A.P., und Prof. Y. Srinivasa Rao, Ph.D., ist Professor im Fachbereich Instrumententechnik an der A.U. Er verfügt über mehr als 18 Jahre Lehrtätigkeit und beide haben mehrere Forschungsarbeiten in nationalen und internationalen Zeitschriften veröffentlicht. Sie sind lebenslange Mitglieder von IEEE, IETE, LIST.