Zhong Lin WangWang Zhong LinBroschiertes BuchReflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis Versandkostenfrei!Versandfertig in 1-2 Wochen63,99 €inkl. MwSt. Jetzt bewertenIn den Warenkorb PAYBACK Punkte 32 °P sammeln! BewertungProduktdetails ProduktbeschreibungVerlag: Cambridge University PressSeitenzahl: 460Erscheinungstermin: 31. Mai 2005 EnglischAbmessung: 244mm x 170mm x 25mmGewicht: 788gISBN-13: 9780521017954ISBN-10: 0521017955Artikelnr.: 22117806HerstellerkennzeichnungLibri GmbHEuropaallee 136244 Bad Hersfeldgpsr@libri.de Für dieses Produkt wurde noch keine Bewertung abgegeben. Wir würden uns sehr freuen, wenn du die erste Bewertung schreibst! Eine Bewertung schreiben Andere Kunden interessierten sich für Zhong Lin Wang Reflection Electron Microscopy and … Buch 144,99 € Jukka A. Räty, … UV-Visible Reflection Spectroscopy of … Buch 77,99 € André Hoffmann Systematic Research and Analysis of the … Buch 49,99 € Steven Kämmer Characterisation of metallic particle … Buch 27,95 € Interfaces in High-Tc Superconducting … Buch 38,99 € David H. Krinsley, … Backscattered Scanning Electron … Buch 61,99 € Strong Correlation and Superconductivity Buch 77,99 € Daisuke Ogura Theoretical Study of Electron … Buch 75,99 € Irwin Gillespie … An Examination Of The Munsell Color … Buch 27,99 € Keller Joseph B Reflection of Electromagnetic Waves Buch 25,99 €