La conférence "Unveiling the Crystal Lattice: AI-Enhanced XRD Analysis" se penche sur la fusion révolutionnaire des techniques de diffraction des rayons X (XRD) et des algorithmes d'intelligence artificielle (AI). La DRX restant la pierre angulaire de la caractérisation des matériaux, le livre explore la manière dont l'intégration de l'IA améliore la précision, la vitesse et l'efficacité de l'analyse DRX, ouvrant ainsi de nouvelles frontières pour la recherche et les applications industrielles.Le livre commence par établir une base solide pour l'analyse XRD, en soulignant son importance, son contexte historique et ses défis. Il présente ensuite le concept d'IA et son impact potentiel sur l'analyse XRD. Il se penche ensuite sur les principes fondamentaux de la diffraction des rayons X, offrant aux lecteurs une compréhension complète de la technique.Diverses techniques traditionnelles d'analyse XRD, y compris l'analyse qualitative et quantitative, l'analyse de texture et l'analyse des contraintes résiduelles, sont explorées. Le livre se penche ensuite sur l'apprentissage automatique et son application à l'analyse XRD, couvrant le prétraitement des données, la sélection des caractéristiques, les algorithmes de classification, les algorithmes de régression et l'utilisation des réseaux neuronaux et de l'apprentissage profond.