Signal Processing and Pattern Recognition and Nondestructive Evaluation of Materials - Chen, Chi-hau (ED.)
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Produktdetails
  • NATO ASI Series F: Computer and Systems Sciences
  • Verlag: Springer, Berlin
  • Seitenzahl: 344
  • Englisch
  • Abmessung: 245mm
  • Gewicht: 774g
  • ISBN-13: 9783540191001
  • ISBN-10: 3540191003
  • Artikelnr.: 25399486