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In questo lavoro, film sottili di NiO conduttivi e altamente trasparenti sono stati depositati su un substrato di vetro con il metodo Sol gel spin coating. È stata studiata l'influenza della temperatura di ricottura sulle proprietà strutturali, ottiche ed elettriche. Le analisi DRX hanno indicato che i film di ZnO hanno natura policristallina e che ad alta temperatura è stata osservata una fase cubica di NiO con orientamento preferenziale (111) e (200) corrispondente ai film di NiO. I valori ottimali della dimensione media dei cristalliti dei film di ZnO in esame si osservano a partire da 550 °C di temperatura di ricottura. L'aumento della dimensione dei cristalliti è stato indicato dall'incremento della cristallinità sotto l'orientamento dell'asse a del NiO. Tutti i film ricotti mostrano una trasparenza ottica media di circa l'80%, nell'intervallo del visibile. Lo spostamento della trasmittanza ottica verso lunghezze d'onda più elevate può essere evidenziato dall'aumento dell'energia di band gap da 3,536 a 3,854 eV con l'aumento della temperatura di ricottura da 450 a 600 °C. L'energia di Urbach osservata dei film sottili di ZnO diminuisce da 339,311 a 180,756 meV. La buona conducibilità elettrica è stata riscontrata a 550 °C.