15,99 €
inkl. MwSt.
Versandfertig in 6-10 Tagen
8 °P sammeln
Andere Kunden interessierten sich auch für
![Intellektual'nye sistemy obespecheniq bezopasnosti pri pozharah na osnowe IoT]( "Intellektual'nye sistemy obespecheniq bezopasnosti pri pozharah na osnowe IoT")
Intellektual'nye sistemy obespecheniq bezopasnosti pri pozharah na osnowe IoT32,99 €![Mashinnoe obuchenie i iskusstwennyj Mashinnoe obuchenie w proektirowanii älektroniki]( "Mashinnoe obuchenie i iskusstwennyj Mashinnoe obuchenie w proektirowanii älektroniki")
Mashinnoe obuchenie i iskusstwennyj Mashinnoe obuchenie w proektirowanii älektroniki44,99 €![Malomoschnyj BIST dlq cifrowyh shem VLSI]( "Malomoschnyj BIST dlq cifrowyh shem VLSI")
Malomoschnyj BIST dlq cifrowyh shem VLSI62,99 €![Obnaruzhenie i raspoznawanie lic w real'nom wremeni]( "Obnaruzhenie i raspoznawanie lic w real'nom wremeni")
Obnaruzhenie i raspoznawanie lic w real'nom wremeni32,99 €![Dlq shifrowaniq i obespecheniq kachestwa mer wodqnogo znaka JeKG]( "Dlq shifrowaniq i obespecheniq kachestwa mer wodqnogo znaka JeKG")
Dlq shifrowaniq i obespecheniq kachestwa mer wodqnogo znaka JeKG15,99 €![Vstraiwaemaq platforma dlq obespecheniq bezopasnosti mul'timedia: Issledowanie i realizaciq]( "Vstraiwaemaq platforma dlq obespecheniq bezopasnosti mul'timedia: Issledowanie i realizaciq")
Vstraiwaemaq platforma dlq obespecheniq bezopasnosti mul'timedia: Issledowanie i realizaciq15,99 €![Proektirowanie i modelirowanie LMS-fil'tra s izmenqüschejsq wo wremeni konwergenciej]( "Proektirowanie i modelirowanie LMS-fil'tra s izmenqüschejsq wo wremeni konwergenciej")
Proektirowanie i modelirowanie LMS-fil'tra s izmenqüschejsq wo wremeni konwergenciej15,99 €
Poskol'ku tehnologiq SBIS postoqnno sokraschaetsq do bolee nizkih tehnologicheskih uzlow, nam neobhodimy äffektiwnye metody testirowaniq. V nastoqschee wremq nadezhnost' i testiruemost' qwlqütsq wazhnymi parametrami pri proektirowanii sowremennyh SBIS. Sokraschenie wremeni testirowaniq qwlqetsq osnownoj zadachej w DFT na osnowe skanirowaniq (ili testirowaniq) posledowatel'nosti, kotoraq, buduchi primenennoj k cifrowoj sheme, pozwolit awtomaticheskomu testowomu oborudowaniü otlichit' prawil'noe powedenie shemy ot neprawil'nogo, wyzwannogo defektami. V nastoqschee wremq, ATE mashiny qwlqütsq ochen' dorogimi mashinami, t.e. (i) bol'shee kolichestwo testowyh shablonow trebuet bol'she wremeni dlq wypolneniq, chto priwodit k uwelicheniü stoimosti. (ii) bol'she dannyh arhitektury dlq äkonomicheski äffektiwnogo ispytaniq. Takim obrazom, bol'shij ob#em shablonow trebuet bol'shej emkosti hranilischa. Bol'shij ob#em shablonow takzhe trebuet bol'she wremeni na operaciü skanirowaniq w IU. DFT Compiler ot Synopsys ispol'zuetsq dlq generacii werificirowannogo dizajna skanirowaniq. Instrument ATPG generiruet wektory, kotorye mogut opredelit' ob#em, trebuüschij bol'she pamqti dlq hraneniq, chto priwedet k uwelicheniü zatrat. Vposledstwii instrument ATPG generiruet statisticheskij otchet, kotoryj soobschaet nam informaciü o kategorii neisprawnosti, kotoruü my dolzhny interpretirowat' dlq otladki problem pokrytiq. Osnownoe wnimanie udelqetsq uluchsheniü wremeni testirowaniq putem izmeneniq porqdka qcheek skanirowaniq.