23,99 €
inkl. MwSt.
Versandfertig in 6-10 Tagen
12 °P sammeln
Andere Kunden interessierten sich auch für
![Srawnitel'nyj analiz Solnca i zwezd. Solnechnaq aktiwnost' w XXI weke]( "Srawnitel'nyj analiz Solnca i zwezd. Solnechnaq aktiwnost' w XXI weke")
Srawnitel'nyj analiz Solnca i zwezd. Solnechnaq aktiwnost' w XXI weke23,99 €![Spektrofoto- metricheskij analiz tonkih plenok splawow a-Si:H i a-nk-C:H]( "Spektrofoto- metricheskij analiz tonkih plenok splawow a-Si:H i a-nk-C:H")
Spektrofoto- metricheskij analiz tonkih plenok splawow a-Si:H i a-nk-C:H18,99 €![Jelektrodinamicheskij analiz difrakcii radio- i opticheskih impul'sow]( "Jelektrodinamicheskij analiz difrakcii radio- i opticheskih impul'sow")
Jelektrodinamicheskij analiz difrakcii radio- i opticheskih impul'sow42,99 €![Analiz teplowogo (ne)komforta i ego pedagogicheskie posledstwiq]( "Analiz teplowogo (ne)komforta i ego pedagogicheskie posledstwiq")
Analiz teplowogo (ne)komforta i ego pedagogicheskie posledstwiq13,99 €![Ramanowskie spektry i termicheskij analiz nanochastic]( "Ramanowskie spektry i termicheskij analiz nanochastic")
Ramanowskie spektry i termicheskij analiz nanochastic13,99 €![Analiz defektow struktury karbida kremniq rozetochnymi metodikami]( "Analiz defektow struktury karbida kremniq rozetochnymi metodikami")
Analiz defektow struktury karbida kremniq rozetochnymi metodikami61,99 €![Analiz struktury s pomosch'ü DFT i rentgenowskoj difrakcii]( "Analiz struktury s pomosch'ü DFT i rentgenowskoj difrakcii")
Analiz struktury s pomosch'ü DFT i rentgenowskoj difrakcii13,99 €
STATISTIChESKIY ANALIZ FOTOMETRIChESKIKh IZMERENIY, POLUChENNYKh PRI VOZBUZhDENII IONOSFERY MOShchNYM RADIOIZLUChENIEM STENDA "SURA". Issledovany eksperimental'nye dannye, poluchennye pri vozbuzhdenii ionosfery moshchnym radioizlucheniem stenda "Sura". Primenen metod nakopleniya, zaklyuchayushchiysya v usrednenii epokh, dlya vydeleniya signala, poluchennogo po fotometricheskim izmereniyam. Provedena proverka gipotezy o tipe raspredeleniya shuma fotometra v otsutstvii fotonov sveta. Pokazano, chto shum fotometra raspredelyen po normal'nomu zakonu. Polucheno, chto posledovatel'nost' shumovykh impul'sov issleduemogo ekzemplyara FEU raspredeleno po geometricheskomu zakonu.