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Finanz- und Wirtschaftskrisen kommen selten mit Ankündigung oder Vorwarnung. Ihre möglichen Folgen stellen immer wieder jedes erwartete Ausmaß in den Schatten. Dennoch ist das Risikomanagement besonders im Bankwesen gefordert, entsprechende Vorkehrungen zu treffen. Um für solche Ereignisse in Zukunft besser gerüstet zu sein, wird vermehrt vom Instrument des Stresstests Gebrauch gemacht. In diesem Buch befasst sich der Autor daher mit der Verwendung von Stresstests im Risikomanagement. Er stellt zuerst die gebräuchlichen Risikomaße Value at Risk (VaR) und Expected Shortfall (ES) vor. Zusätzlich…mehr

Produktbeschreibung
Finanz- und Wirtschaftskrisen kommen selten mit Ankündigung oder Vorwarnung. Ihre möglichen Folgen stellen immer wieder jedes erwartete Ausmaß in den Schatten. Dennoch ist das Risikomanagement besonders im Bankwesen gefordert, entsprechende Vorkehrungen zu treffen. Um für solche Ereignisse in Zukunft besser gerüstet zu sein, wird vermehrt vom Instrument des Stresstests Gebrauch gemacht. In diesem Buch befasst sich der Autor daher mit der Verwendung von Stresstests im Risikomanagement. Er stellt zuerst die gebräuchlichen Risikomaße Value at Risk (VaR) und Expected Shortfall (ES) vor. Zusätzlich geht er auf das nach dem Neuen Basler Akkord notwendige ökonomische Kapital ein. Anhand eines konkreten Beispielportfolios präsentiert er den Lesern die Berechnung der notwendigen Verlustverteilung und Risikomaße. Dabei geht er auch auf die Grundlagen der verwendeten Monte Carlo Simulation ein. Außerdem stellt er Modellverbesserungen, die auf aktuellen Forschungsergebnissen basieren, vor. Die Durchführung eines fortgeschrittenen Stresstestansatzes und die Auswirkungen auf das Beispielportfolio werden anhand von ökonomisch sinnvoll gewählten Stressszenarien praxisnah aufgezeigt.
Autorenporträt
Mag. Dipl.-Ing. Martin Puhl konnte Erfahrung im Kreditrisikomanagement in Österreich und im Wertpapiergeschäft bei Goldman Sachs sammeln. Er hat Technische Physik und Betriebswirtschaftslehre in Wien und New York studiert.