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Le particelle cariche possono causare effetti negativi sui veicoli spaziali e sui componenti elettronici. Gli effetti delle radiazioni delle particelle ad alta energia causano la carica della superficie del veicolo spaziale, il degrado o il guasto permanente dei componenti elettronici e dei sottosistemi per effetto di singoli eventi, danni da spostamento ed effetti di dose ionizzante nel veicolo spaziale. Gli effetti dei transitori di carica indotti dagli ioni possono essere suddivisi nelle tre categorie fondamentali: L'effetto TID è l'accumulo di energia ionizzante depositata per un lungo periodo sui materiali semiconduttori. Il TID si verifica soprattutto a causa degli elettroni e dei protoni, che possono causare il guasto del dispositivo. La perdita totale di energia o il trasferimento al materiale per unità di distanza di viaggio attraverso il materiale è chiamata LET I dispositivi elettronici possono essere disturbati dal passaggio di elettroni energetici, protoni o ioni più pesanti che possono alterare lo stato di un circuito, producendo "effetti di evento singolo". SEU e multiple-bit upset (MBU) che modificano lo stato logico dei nodi interni del circuito. Possono essere ripristinati con diverse operazioni elettriche. Questi errori sono chiamati errori morbidi e sono recuperabili.