Bartel L. van der Waerden, Erwin Nievergelt

Tafeln zum Vergleich Zweier Stichproben mittels X-Test und Zeichentest / Tables for Comparing Two Samples by X-Test and Sign Test

• Broschiertes Buch

Produktbeschreibung

In allen experimentellen Naturwissenschaften hat man immer wieder Mel3reihen miteinander zu vergleichen und festzustellen, ob ein etwa gefundener Unterschied gral3er ist als die rein zuHillig zu erwartenden Unterschiede. In der Physik und Chemie sind die zufalligen Schwan kungen der gem essen en Gral3en meistens nur durch Mel3fehler bedingt, fur die man das GAusssche Fehlergesetz annehmen kann. Hat man es aber mit lebenden Wesen zu tun, so treten Schwankungen auf, die im allgemeinen un bekann ten Verteilungsgesetzen gen ugen. Lal3t man die Annahme der Normalverteilung fallen, so werden auch die herkamm lichen Methoden der Fehlertheorie hinfallig und man ist auf Anord nungsteste (order tests) angewiesen, die nur die Anordnung der be obachteten Gral3en benutzen. In neuester Zeit sind sehr gute Anordnungstests zum Vergleich zweier Stichproben entwickelt worden, insbesondere der X-Test und der Zeichentest. Urn diese Tests bequem anwenden zu kannen, braucht man Tafeln, aus denen man die Verwerfungsschranken ablesen kann. ' Solche Tafeln sollen jetzt vorgelegt werden. Urn die Benutzung der Tafeln in andern Sprachgebieten zu erleich tern, wurden am Schlusse des Buches Anwendungsvorschriften in eng Ii scher Sprache beigegeben, Zurich, Marz 1956 B. L VAN DER W AERDEN ERWIN NIEVERGELT Inhaltsverzeichnis SeHe I. Theoretische Grundlagen 1 A. Der X-Test ...... . 1 B. Der Zeichentest . . . . . 11 C. Die Berechnung der Tafeln 13 II. Anwendungsvorschriften 14 III. Tafeln ......... . 21 Application of the tests IV.

Produktdetails

• Verlag: Springer / Springer Berlin Heidelberg / Springer, Berlin
• Artikelnr. des Verlages: 978-3-540-02102-5
• 1956
• Seitenzahl: 40
• Erscheinungstermin: 1. Januar 1956
• Deutsch, Englisch
• Abmessung: 235mm x 155mm x 3mm
• Gewicht: 86g
• ISBN-13: 9783540021025
• ISBN-10: 3540021027
• Artikelnr.: 40772686

Autorenporträt

Bartel van der Waerden, geb. am 2.2.1903 in Amsterdam, ging 1924 ging als Student nach Göttingen und wurde dort mit Emmy Noether und der abstrakten Algebra bekannt. Sein Hauptinteresse galt damals vor allem der Begründung der algebraischen Geometrie mit Hilfe der neuen algebraischen Methoden. Als er im Jahre 1926 als junger Doktor mit einem Rockefeller-Stipendium nach Hamburg kam, hatte er Gelegenheit, eine didaktisch hervorragende Algebra-Vorlesung von Emil Artin zu hören. Die Ausarbeitung, die er von dieser Vorlesung machte, wurde zum Kern des vorliegenden Werkes. Es erschien zuerst 1930-31 unter dem Titel 'Moderne Algebra' in der Sammlung 'Grundlehren der mathematischen Wissenschaften'. In der Folge wurde das Werk in die englische, russische und chinesische Sprache übersetzt. Im Jahre 1928 wurde der Autor Professor an der Universität Groningen. Seit 1951 lebte und arbeitete er bis zu seiner Emeritierung in Zürich als Professor an der dortigen Universität.

Inhaltsangabe

I. Theoretische Grundlagen.- A. Der X-Test.- B. Der Zeichentest.- C. Die Berechnung der Tafeln.- II. Anwendungsvorschriften.- III. Tafeln.- IV. Application of the tests.