Técnicas experimentais para caracterização de materiais - Parte-1 - Solanki, Vanarajsinh;Dasadia, Abhay;Mishra, Pramita
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Este livro concentra-se em diferentes ferramentas de caracterização de materiais centrando-se na morfologia/topologia e propriedades estruturais dos materiais. No capítulo relacionado com ferramentas de caracterização morfológica, o livro discutiu principalmente o Microscópio Electrónico de Transmissão (TEM), o Microscópio Electrónico de Varrimento (SEM), e o Microscópio de Força Atómica (AFM), enquanto que o capítulo de caracterização estrutural inclui os detalhes do Difractómetro de Raios X (XRD), Difracção de Neutrões, Microscópio Raman, Electrão de Área Seleccionada Di¿raction (SAED).…mehr

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Produktbeschreibung
Este livro concentra-se em diferentes ferramentas de caracterização de materiais centrando-se na morfologia/topologia e propriedades estruturais dos materiais. No capítulo relacionado com ferramentas de caracterização morfológica, o livro discutiu principalmente o Microscópio Electrónico de Transmissão (TEM), o Microscópio Electrónico de Varrimento (SEM), e o Microscópio de Força Atómica (AFM), enquanto que o capítulo de caracterização estrutural inclui os detalhes do Difractómetro de Raios X (XRD), Difracção de Neutrões, Microscópio Raman, Electrão de Área Seleccionada Di¿raction (SAED). Aqui, fizemos o nosso melhor para explicar cada detalhe das técnicas experimentais que serão muito úteis para os novos aprendizes.
Autorenporträt
Il Dr. Vanaraj Solanki ha conseguito il suo master (M.Sc) in fisica (2008) presso la S. P. University, VVNagar, e il Ph.D presso l'Institute of Physics, Bhubaneswar, India. Ha anche lavorato al Materials Research Centre, Indian Institute of Science, Bangalore, durante il suo postdoc. Attualmente, il dottor Solanki lavora come ricercatore presso KRADLE, CHARUSAT, Changa.