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Ce livre se concentre sur les différents outils de caractérisation des matériaux en se focalisant sur la morphologie/topologie et les propriétés structurelles des matériaux. Dans le chapitre relatif aux outils de caractérisation morphologique, l'ouvrage traite principalement du microscope électronique à transmission (MET), du microscope électronique à balayage (MEB) et du microscope à force atomique (AFM), tandis que le chapitre sur la caractérisation structurelle comprend les détails du diffractomètre à rayons X (XRD), de la diffraction des neutrons, du microscope Raman et de la di raction électronique à aire sélectionnée (SAED). Nous avons fait de notre mieux pour expliquer chaque détail des techniques expérimentales, ce qui sera très utile aux nouveaux apprenants.