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Questo libro si concentra su diversi strumenti di caratterizzazione dei materiali, concentrandosi sulla morfologia/topologia e sulle proprietà strutturali dei materiali. Nel capitolo relativo agli strumenti di caratterizzazione morfologica il libro tratta principalmente del microscopio elettronico a trasmissione (TEM), del microscopio elettronico a scansione (SEM) e del microscopio a forza atomica (AFM), mentre il capitolo sulla caratterizzazione strutturale include i dettagli del diffrattometro a raggi X (XRD), della diffrazione neutronica, del microscopio Raman e della di¿razione elettronica ad area selezionata (SAED). Abbiamo fatto del nostro meglio per spiegare ogni dettaglio delle tecniche sperimentali che saranno molto utili ai nuovi studenti.