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Questo libro si concentra su diversi strumenti di caratterizzazione dei materiali, concentrandosi sulla morfologia/topologia e sulle proprietà strutturali dei materiali. Nel capitolo relativo agli strumenti di caratterizzazione morfologica il libro tratta principalmente del microscopio elettronico a trasmissione (TEM), del microscopio elettronico a scansione (SEM) e del microscopio a forza atomica (AFM), mentre il capitolo sulla caratterizzazione strutturale include i dettagli del diffrattometro a raggi X (XRD), della diffrazione neutronica, del microscopio Raman e della di¿razione elettronica…mehr

Produktbeschreibung
Questo libro si concentra su diversi strumenti di caratterizzazione dei materiali, concentrandosi sulla morfologia/topologia e sulle proprietà strutturali dei materiali. Nel capitolo relativo agli strumenti di caratterizzazione morfologica il libro tratta principalmente del microscopio elettronico a trasmissione (TEM), del microscopio elettronico a scansione (SEM) e del microscopio a forza atomica (AFM), mentre il capitolo sulla caratterizzazione strutturale include i dettagli del diffrattometro a raggi X (XRD), della diffrazione neutronica, del microscopio Raman e della di¿razione elettronica ad area selezionata (SAED). Abbiamo fatto del nostro meglio per spiegare ogni dettaglio delle tecniche sperimentali che saranno molto utili ai nuovi studenti.
Autorenporträt
Il Dr. Vanaraj Solanki ha conseguito il suo master (M.Sc) in fisica (2008) presso la S. P. University, VVNagar, e il Ph.D presso l'Institute of Physics, Bhubaneswar, India. Ha anche lavorato al Materials Research Centre, Indian Institute of Science, Bangalore, durante il suo postdoc. Attualmente, il dottor Solanki lavora come ricercatore presso KRADLE, CHARUSAT, Changa.