Theoretische Bewertung der Reflexion in AL/SiO2-Dünnschichten - Ortega Cabrera, Jesús Javier
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Die Verbesserung der optischen Eigenschaften eines Materials, wie z. B. des Reflexionsgrads, beinhaltet die komplexe Suche nach den optimalen experimentellen Parametern bei deren Gewinnung. Die Verwendung von Berechnungssoftware für die Simulation dieser Dünnschichtwachstumsprozesse stellt einen wesentlichen Vorteil dar, da keine Abhängigkeit von einem realen System besteht und ein breiterer Bereich der beteiligten physikalischen Größen untersucht werden kann. Darüber hinaus gibt es einen Bedarf in der Automobilindustrie, Varroc Lighting Systems© wurde mit der Aufgabe betraut, den…mehr

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Produktbeschreibung
Die Verbesserung der optischen Eigenschaften eines Materials, wie z. B. des Reflexionsgrads, beinhaltet die komplexe Suche nach den optimalen experimentellen Parametern bei deren Gewinnung. Die Verwendung von Berechnungssoftware für die Simulation dieser Dünnschichtwachstumsprozesse stellt einen wesentlichen Vorteil dar, da keine Abhängigkeit von einem realen System besteht und ein breiterer Bereich der beteiligten physikalischen Größen untersucht werden kann. Darüber hinaus gibt es einen Bedarf in der Automobilindustrie, Varroc Lighting Systems© wurde mit der Aufgabe betraut, den Reflexionsgrad von aluminisierten Scheinwerfern zu verbessern. Daher haben wir die Entwicklung mit der Software NASCAM® durchgeführt, die die kinetische Monte-Carlo-Methode verwendet, um ein Modell des zu untersuchenden physikalischen Systems auf einer nanometrischen Skala zu entwickeln, was uns erlaubt, den Einfluss verschiedener Größen zu analysieren, die den Reflexionsgrad des Materials beeinflussen können.
Autorenporträt
Jesús Javier Ortega Cabrera: Master in de ingenieurswetenschappen met oriëntatie op materialen, School voor mechanische en elektrische engineering, Universidad Autónoma de Nuevo León.