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Im allgemeinen ist jeder Kristall anisotrop, d.h. seine physikalischen Eigenschaften sind richtungsabhängig. Für die meisten metallphysikali schen Untersuchungen ist daher seine Orientierung zur Beobachtungsrich tung von Bedeutung. Bei Einkristallen ist die Orientierung verhältnis mäßig leicht zu messen und anzugeben; bei polykristallinen Proben da gegen ist es im allgemeinen unmöglich, die Lage jedes einzelnen Kristal liten zu ermitteln. Man ist in diesem Falle auf statistische Aussagen angewiesen. Oft kommt es vor, daß mehrere Kristallite eines Gefüges die gleiche Lage relativ zu einer ausgezeichneten Probenrichtung oder -ebene be sitzen. Man spricht dann von einer Textur. Beispiele solcher Kristall ausrichtungen sind die sogenannten Fasertexturen in Drähten oder die Texturen in weichmagnetischen Werkstoffen. Ein besonderes Problem ist die Messung von Texturen. Welches Verfahren auch immer gewählt werden mag, stets sind die folgenden Anforderungen zu stellen: oc) Die zur Messung kommende physikalische Größe muß von der Kristall struktur abhängig sein. ß) Die Apparatur muß in der Lage sein, über viele Kristallite zu mitteln. y) Die Meßergebnisse müssen richtig, d.h. von allen apparativen Ein flüssen befreit, angegeben und so dargestellt werden, Richtung daß und Größe der Textur erkennbar sind.
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