Timing Performance of Nanometer Digital Circuits Under Process Variations
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Sprache:Englisch
116,99 €
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Beschreibung
Produktdetails
Einband
Taschenbuch
Erscheinungsdatum
12.01.2019
Abbildungen
XVIII, 185 p. 116 illus., 91 illus. in color.
Verlag
SpringerSeitenzahl
185
Maße (L/B/H)
23,5/15,5/1,2 cm
Gewicht
318 g
Auflage
Softcover reprint of the original 1st edition 2018
Sprache
Englisch
ISBN
978-3-030-09239-9
This book discusses the digital design of integrated circuits under process variations, with a focus on design-time solutions. The authors describe a step-by-step methodology, going from logic gates to logic paths to the circuit level. Topics are presented in comprehensively, without overwhelming use of analytical formulations. Emphasis is placed on providing digital designers with understanding of the sources of process variations, their impact on circuit performance and tools for improving their designs to comply with product specifications. Various circuit-level “design hints” are highlighted, so that readers can use then to improve their designs. A special treatment is devoted to unique design issues and the impact of process variations on the performance of FinFET based circuits. This book enables readers to make optimal decisions at design time, toward more efficient circuits, with better yield and higher reliability.
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