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Des études menées dans divers domaines de la physique ont mis en évidence que le retard peut devenir négatif sous certaines conditions. Dans ce cas, on parle d'effet « Negative Groupe Delay » ou NGD. Ce livre présente une étude équilibrée entre théorie, modélisation, simulation, expériences et applications du circuit NGD. Des méthodologies permettant d'identifier les topologies NGD les plus simples et potentiellement intégrable dans les systèmes RF/digitaux microélectroniques. Des dispositifs générant un NGD sans atténuation et adaptable à différentes configurations (RF, hyperfréquences, bande…mehr

Produktbeschreibung
Des études menées dans divers domaines de la physique ont mis en évidence que le retard peut devenir négatif sous certaines conditions. Dans ce cas, on parle d'effet « Negative Groupe Delay » ou NGD. Ce livre présente une étude équilibrée entre théorie, modélisation, simulation, expériences et applications du circuit NGD. Des méthodologies permettant d'identifier les topologies NGD les plus simples et potentiellement intégrable dans les systèmes RF/digitaux microélectroniques. Des dispositifs générant un NGD sans atténuation et adaptable à différentes configurations (RF, hyperfréquences, bande de base) ont été établis. Trois topologies sont validées en technologie hybride microruban, d'abord en bande de base, puis en hyperfréquences. Des applications pour la mise en oeuvre d'un déphaseur actif à phase à retard nul (phase constante) et la remise en forme des signaux mixtes dégradés par les interconnexions microélectroniques sont développées et validées expérimentalement. Des synthèses des circuits digitaux NGD sont établies dans la dernière partie de ce livre. Des applications de ce circuit pour la suppression du retard pur des systèmes numériques ont été réalisées avec des RII NGD.
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Autorenporträt
Il est (co-)auteur de plus de 80 articles publiés dans des journaux et des conférences internationaux, il est pionnier des circuits NGD actif BF & hyperfréquence et ses applications, son thème de recherche concerne l¿intégrité de signal RF/digital et sur la caractérisation temporelle des champs proches EM. Il est relecteur des articles int.