Konstrukciq i modelirowanie testera snizhaet chastotu otkazow i kolichestwo plat s defektami. Bolee togo, äto pozwolqet sdelat' wremq cikla kazhdoj platy postoqnnym i protestirowat' bol'shee kolichestwo plat za sokraschennoe wremq. Dlq ätogo my nachali s prezentacii problemy i predlozheniq reshenij po sokrascheniü kolichestwa brakowannyh plat w proizwodstwennom processe na linii SMD. Zatem, posle izucheniq sistemy, my wybrali apparatnoe obespechenie dlq ee prawil'nogo funkcionirowaniq, kotoroe pomogaet nam awtomatizirowat' tester.