Un sistema efficiente per il riconoscimento parziale dell'impronta del palmo utilizzando le creste - Ganesan, Karthick;George, Allen
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Il riconoscimento dell'impronta palmare è stato studiato negli ultimi dieci anni. In questo periodo sono stati affrontati diversi problemi. Le pieghe di flessione sono chiamate linee principali e le pieghe secondarie sono chiamate rughe. Le creste presenti sui palmi sono uniche e persistenti. La regione palmare è composta da un numero maggiore di minuzie rispetto alle impronte digitali, quindi è considerata più distintiva delle impronte digitali. Per questi sistemi, una risoluzione elevata, come 500 PPI, è la risoluzione standard per l'acquisizione nei sistemi che utilizzano le caratteristiche…mehr

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Produktbeschreibung
Il riconoscimento dell'impronta palmare è stato studiato negli ultimi dieci anni. In questo periodo sono stati affrontati diversi problemi. Le pieghe di flessione sono chiamate linee principali e le pieghe secondarie sono chiamate rughe. Le creste presenti sui palmi sono uniche e persistenti. La regione palmare è composta da un numero maggiore di minuzie rispetto alle impronte digitali, quindi è considerata più distintiva delle impronte digitali. Per questi sistemi, una risoluzione elevata, come 500 PPI, è la risoluzione standard per l'acquisizione nei sistemi che utilizzano le caratteristiche delle creste per l'identificazione. I sistemi di corrispondenza delle impronte palmari esistenti si basavano su immagini a bassa risoluzione (100 ppi). Oltre alle immagini di impronte palmari ad alta risoluzione, è necessario supportare anche la corrispondenza tra impronte palmari parziali e complete. Tali impronte parziali recuperate dalle impronte palmari sulle scene del crimine sono chiamate impronte latenti e, a scopo di test, vengono generate da impronte complete ad alta risoluzione scansionate dal vivo ritagliandole in diverse regioni/segmenti. Queste ultime sono chiamate anche impronte parziali pseudo latenti o impronte parziali latenti sintetiche, a seconda che vengano aggiunti o meno rumori/degradazioni.
Autorenporträt
Dr. G. Karthick promovierte 2017 in I&C Engineering an der Anna University Chennai. Er erwarb seinen PG-Abschluss in Angewandter Elektronik am Department of ECE, Bannari Amman Institute of Technology Sathyamangalam. Derzeit arbeitet er als Associate Professor ECE Abteilung in Jyothismathi Institute of Technology & Science, Karimnagar.