Un système efficace pour la reconnaissance partielle des empreintes de la paume de la main à l'aide de crêtes - Ganesan, Karthick;George, Allen
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La reconnaissance des empreintes palmaires a été étudiée au cours des dix dernières années. Au cours de cette période, différents problèmes ont été abordés. Les plis de flexion sont appelés lignes principales et les plis secondaires sont appelés rides. Les crêtes présentes dans les paumes sont uniques et persistantes. La région palmaire est constituée de plus de points caractéristiques que les empreintes digitales et est donc considérée comme plus distinctive que ces dernières. Pour ces systèmes, une résolution élevée, telle que 500 PPI, est la résolution standard pour la capture dans les…mehr

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Produktbeschreibung
La reconnaissance des empreintes palmaires a été étudiée au cours des dix dernières années. Au cours de cette période, différents problèmes ont été abordés. Les plis de flexion sont appelés lignes principales et les plis secondaires sont appelés rides. Les crêtes présentes dans les paumes sont uniques et persistantes. La région palmaire est constituée de plus de points caractéristiques que les empreintes digitales et est donc considérée comme plus distinctive que ces dernières. Pour ces systèmes, une résolution élevée, telle que 500 PPI, est la résolution standard pour la capture dans les systèmes qui utilisent les caractéristiques des crêtes pour l'identification. Les systèmes existants de comparaison d'empreintes palmaires étaient basés sur des images à faible résolution (100 ppi). En plus des images d'empreintes palmaires à haute résolution, la comparaison d'empreintes palmaires partielles à complètes doit également être prise en charge. Ces empreintes palmaires partielles récupérées sur les scènes de crime sont appelées empreintes palmaires latentes et, à des fins de test, elles sont générées à partir d'empreintes palmaires complètes haute résolution numérisées en direct en les découpant en différentes régions/segments.
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Autorenporträt
Dr. G. Karthick promovierte 2017 in I&C Engineering an der Anna University Chennai. Er erwarb seinen PG-Abschluss in Angewandter Elektronik am Department of ECE, Bannari Amman Institute of Technology Sathyamangalam. Derzeit arbeitet er als Associate Professor ECE Abteilung in Jyothismathi Institute of Technology & Science, Karimnagar.