Una rassegna di alcuni algoritmi di rilevamento di caratteristiche locali - Zhang, John;Sun, Tao
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Con l'aumento dell'importanza dell'intelligenza artificiale e del riconoscimento facciale nelle applicazioni, le tecniche di rilevamento delle caratteristiche locali vengono applicate sempre più spesso. Negli ultimi decenni sono stati sviluppati diversi algoritmi di rilevamento delle caratteristiche locali. La scelta dell'algoritmo più adatto per un'applicazione è un compito impegnativo. Questo libro passa in rassegna alcuni algoritmi di rilevamento delle caratteristiche locali e aiuta nella selezione degli algoritmi nelle applicazioni.

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Produktbeschreibung
Con l'aumento dell'importanza dell'intelligenza artificiale e del riconoscimento facciale nelle applicazioni, le tecniche di rilevamento delle caratteristiche locali vengono applicate sempre più spesso. Negli ultimi decenni sono stati sviluppati diversi algoritmi di rilevamento delle caratteristiche locali. La scelta dell'algoritmo più adatto per un'applicazione è un compito impegnativo. Questo libro passa in rassegna alcuni algoritmi di rilevamento delle caratteristiche locali e aiuta nella selezione degli algoritmi nelle applicazioni.
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Autorenporträt
John Zhang è professore di matematica presso l'Indiana University of Pennsylvania. Ha conseguito il dottorato di ricerca in matematica presso la Syracuse University e ha conseguito master in economia, statistica e informatica. I suoi interessi di ricerca riguardano principalmente le aree interdisciplinari tra questi campi.