Andere Kunden interessierten sich auch für
![Ocenka kachestwa izobrazheniq dlq obnaruzheniq poddel'nyh biometricheskih dannyh]( "Ocenka kachestwa izobrazheniq dlq obnaruzheniq poddel'nyh biometricheskih dannyh")
Ocenka kachestwa izobrazheniq dlq obnaruzheniq poddel'nyh biometricheskih dannyh13,99 €![Issledowanie po obnaruzheniü izmenenij w giperspektral'nom izobrazhenii]( "Issledowanie po obnaruzheniü izmenenij w giperspektral'nom izobrazhenii")
Issledowanie po obnaruzheniü izmenenij w giperspektral'nom izobrazhenii13,99 €![Usowershenstwowannaq sistema obnaruzheniq i opowescheniq ob insul'te s ispol'zowaniem mashinnogo obucheniq]( "Usowershenstwowannaq sistema obnaruzheniq i opowescheniq ob insul'te s ispol'zowaniem mashinnogo obucheniq")
Usowershenstwowannaq sistema obnaruzheniq i opowescheniq ob insul'te s ispol'zowaniem mashinnogo obucheniq29,99 €![Kompaktnyj massiw patch-antenn dlq obnaruzheniq raka molochnoj zhelezy]( "Kompaktnyj massiw patch-antenn dlq obnaruzheniq raka molochnoj zhelezy")
Kompaktnyj massiw patch-antenn dlq obnaruzheniq raka molochnoj zhelezy13,99 €![Nowye algoritmy dlq obnaruzheniq otklücheniq linii s pomosch'ü PMU]( "Nowye algoritmy dlq obnaruzheniq otklücheniq linii s pomosch'ü PMU")
Nowye algoritmy dlq obnaruzheniq otklücheniq linii s pomosch'ü PMU19,99 €![Osnowy mashinnogo obucheniq dlq prognoznogo analiza dannyh]( "Osnowy mashinnogo obucheniq dlq prognoznogo analiza dannyh")
Osnowy mashinnogo obucheniq dlq prognoznogo analiza dannyh55,99 €![REALIZACIYa 16-RAZRYaDNOJ SISTEMY SBORA DANNYH]( "REALIZACIYa 16-RAZRYaDNOJ SISTEMY SBORA DANNYH")
REALIZACIYa 16-RAZRYaDNOJ SISTEMY SBORA DANNYH13,99 €
Jeta rabota na temu "Topograficheskoe wliqnie analiza obnaruzheniq izmenenij s ispol'zowaniem sputnikowyh dannyh" wklüchaet razlichnye widy korrekcii, takie kak geometricheskaq, atmosfernaq, radiometricheskaq i topograficheskaq, dlq preodoleniq nezhelatel'nogo äffekta ot mnogospektral'nyh sputnikowyh snimkow. V poslednee wremq nablüdaetsq äxponencial'nyj rost ispol'zowaniq mnogospektral'nyh dannyh w razlichnyh prilozheniqh, takih kak monitoring ocenki uscherba, monitoring pochwenno-rastitel'nogo pokrowa (LULC), snezhnyh lawin ili liwnewyh pawodkow i analiz obnaruzheniq izmenenij. Poätomu, prezhde chem pristupit' k dal'nejshemu analizu, neobhodimo wypolnit' predwaritel'nye shagi. Jeta kniga w perwuü ochered' prednaznachena w kachestwe uchebnika dlq issledowatelej w oblasti obrabotki sputnikowyh izobrazhenij, distancionnogo zondirowaniq, analiza obnaruzheniq izmenenij, topograficheskih poprawok. Razlichnye metody topograficheskoj korrekcii srawniwaütsq, a zatem podhodqschij metod topograficheskoj korrekcii dlq snezhnogo pokrowa Gimalaew primenqetsq dlq analiza obnaruzheniq izmenenij. Krome togo, ätot process byl primenen dlq dannyh dwuh sensornyh sputnikow (AWiFS i MODIS).