Jeta rabota na temu "Topograficheskoe wliqnie analiza obnaruzheniq izmenenij s ispol'zowaniem sputnikowyh dannyh" wklüchaet razlichnye widy korrekcii, takie kak geometricheskaq, atmosfernaq, radiometricheskaq i topograficheskaq, dlq preodoleniq nezhelatel'nogo äffekta ot mnogospektral'nyh sputnikowyh snimkow. V poslednee wremq nablüdaetsq äxponencial'nyj rost ispol'zowaniq mnogospektral'nyh dannyh w razlichnyh prilozheniqh, takih kak monitoring ocenki uscherba, monitoring pochwenno-rastitel'nogo pokrowa (LULC), snezhnyh lawin ili liwnewyh pawodkow i analiz obnaruzheniq izmenenij. Poätomu, prezhde chem pristupit' k dal'nejshemu analizu, neobhodimo wypolnit' predwaritel'nye shagi. Jeta kniga w perwuü ochered' prednaznachena w kachestwe uchebnika dlq issledowatelej w oblasti obrabotki sputnikowyh izobrazhenij, distancionnogo zondirowaniq, analiza obnaruzheniq izmenenij, topograficheskih poprawok. Razlichnye metody topograficheskoj korrekcii srawniwaütsq, a zatem podhodqschij metod topograficheskoj korrekcii dlq snezhnogo pokrowa Gimalaew primenqetsq dlq analiza obnaruzheniq izmenenij. Krome togo, ätot process byl primenen dlq dannyh dwuh sensornyh sputnikow (AWiFS i MODIS).
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