Nastoqschee issledowanie na temu "Vliqnie werhushechnoj prischipki i retardantow rosta na urozhajnost' semqn i ih kachestwennye pokazateli okry (Abelmoschus esculentus (L.) Moench.) cv. GO-6" byl proweden w dwuh chastqh (chast' A polewyh äxperimentow i chast' B laboratornyh äxperimentow) s cel'ü izucheniq wliqniq werhushechnoj prischipki na urozhajnost' semqn i ih kachestwo, izucheniq wliqniq retardanta rosta na urozhajnost' semqn i ih kachestwo i izucheniq äffekta wzaimodejstwiq werhushechnoj prischipki i retardanta rosta na urozhajnost' semqn i ih kachestwo. Bylo ustanowleno, chto werhushechnaq prischipka i retardant rosta igraüt wazhnuü rol' na urozhajnost' semqn i ee priznaki, a takzhe na parametry kachestwa semqn okry. Prischipywanie w 20 DAS (P1) bylo priznano äffektiwnym dlq uluchsheniq parametrow rosta rastenij, urozhajnosti semqn i kachestwa semqn okry. Maximal'noe uluchshenie nablüdalos' w wegetatiwnom roste rastenij, urozhajnosti semqn i parametrah, opredelqüschih urozhajnost', pri primenenii CCC 200 ppm (T3), a takzhe w parametrah kachestwa semqn, za isklücheniem wesa sta semqn i diametra semqn (m).