32,99 €
inkl. MwSt.
Versandkostenfrei*
Versandfertig in 6-10 Tagen
  • Broschiertes Buch

Zbadano niezawodno¿¿ diod elektroluminescencyjnych (LED) InGaN/GaN o ró¿nych d¿ugo¿ciach fali emisyjnej i ró¿nych geometriach. Zmierzono charakterystyki pr¿dowo-napi¿ciowe, widmo szumu 1/f, up¿ywno¿¿, rezystancj¿ statyczn¿. Urz¿dzenia poddano 1000-godzinnemu testowi obci¿¿eniowemu stäopr¿dowemu i zbadano stopie¿ degradacji ich wyj¿cia optycznego. Uzyskane wyniki zostäy wyjänione na podstawie danych przekrojowych.

Produktbeschreibung
Zbadano niezawodno¿¿ diod elektroluminescencyjnych (LED) InGaN/GaN o ró¿nych d¿ugo¿ciach fali emisyjnej i ró¿nych geometriach. Zmierzono charakterystyki pr¿dowo-napi¿ciowe, widmo szumu 1/f, up¿ywno¿¿, rezystancj¿ statyczn¿. Urz¿dzenia poddano 1000-godzinnemu testowi obci¿¿eniowemu stäopr¿dowemu i zbadano stopie¿ degradacji ich wyj¿cia optycznego. Uzyskane wyniki zostäy wyjänione na podstawie danych przekrojowych.
Autorenporträt
Zonglin Li obtuvo el título de M.S.E. en 2009 por la Universidad de Hong Kong. Actualmente está trabajando para obtener el título de doctorado en ingeniería eléctrica en la Universidad de California en Riverside. Sus principales intereses son el proceso, la tecnología y la integración de dispositivos basados en nitruro de galio en la plataforma de silicio.