A. A. Afonsky, V. P. Dyakonov

Elektronnye izmereniya v nanotehnologiyah i mikroelektronike (eBook, PDF)

• Format: PDF

Produktbeschreibung

Pervaya v Rossii monografiya po samym sovremennym elektronnym elektro- i radioizmereniyam i izmeritelnym priboram, primenyaemym v nauchnyh issledovaniyah, testirovanii i ispytanii ustroystv i sistem mikroelektroniki i nanotehnologiy. Vpervye podrobno opisany sredstva izmereniy, primenyaemye v usloviyah krupnoseriynogo mikroelektronnogo proizvodstva, i pribory veduschih v ih razrabotke i proizvodstve firm: Keithley, Tektronix, Agilent Technologies, LeCroy, R&S i dr. Osoboe vnimanie udeleno analizu i generatsii testovyh signalov, izmereniyu ih parametrov v oblasti malyh i sverhmalyh vremen, izmereniyu sverhmalyh tokov i napryazheniy, analizu impedansa i immitansa tsepey, izmereniyam staticheskih i dinamicheskih harakteristik poluprovodnikovyh priborov i integralnyh mikroshem i dr. YAvlyaetsya samym krupnym obzorom sovremennyh zarubezhnyh i otechestvennyh izmeritelnyh priborov na rynke Rossii i mira. Dlya inzhenerov, nauchnyh rabotnikov, aspirantov, prepodavateley i studentov vuzov i universitetov tehnicheskogo i klassicheskogo tipov.

---

Dieser Download kann aus rechtlichen Gründen nur mit Rechnungsadresse in A, B, BG, CY, CZ, D, DK, EW, E, FIN, F, GR, H, IRL, I, LT, L, LR, M, NL, PL, P, R, S, SLO, SK ausgeliefert werden.

Produktdetails

• Verlag: DMK Press
• Seitenzahl: 689
• Erscheinungstermin: 19. Februar 2024
• Russisch
• ISBN-13: 9785898183738
• Artikelnr.: 70128489