Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology VII (eBook, PDF)

Redaktion: Claeys, Cor; Kittler, Martin; Richter, Hans; Vanhellemont, Jan

• Format: PDF

Produktbeschreibung

GADEST 1997

Proceedings of the 7th International Autumn Meeting on Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology (GADEST '97), Spa, Belgium, October 1997

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Produktdetails

• Verlag: Trans Tech Publications
• Seitenzahl: 556
• Erscheinungstermin: 25. Juli 1997
• Englisch
• ISBN-13: 9783035706710
• Artikelnr.: 69101497