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  • Format: PDF

GADEST 2007
Selected, peer reviewed papers from Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology - GADEST 2007" held from 14th to 19th October 2007 in Italy at the EMFCSC

Produktbeschreibung
GADEST 2007

Selected, peer reviewed papers from Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology - GADEST 2007" held from 14th to 19th October 2007 in Italy at the EMFCSC


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