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  • Format: PDF

This book contains the first comprehensive review of intrinsic point defects, impurities and their complexes in silicon. Besides compiling the structures, energetic properties, identified electrical levels and spectroscopic signatures, and the diffusion behaviour from investigations, it gives a comprehensive introduction into the relevant fundamental concepts.

  • Geräte: PC
  • ohne Kopierschutz
  • eBook Hilfe
  • Größe: 62.64MB
Produktbeschreibung
This book contains the first comprehensive review of intrinsic point defects, impurities and their complexes in silicon. Besides compiling the structures, energetic properties, identified electrical levels and spectroscopic signatures, and the diffusion behaviour from investigations, it gives a comprehensive introduction into the relevant fundamental concepts.


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Autorenporträt
Peter Pichler, Dr., geb. 1980, Studium der Geschichte, Philosophie und Medien in Graz und Mainz. Lektor am Institut für Geschichte der Karl-Franzens-Universität Graz, seit 2004 Mitarbeiter am Institut für Österreichische Rechtsgeschichte und Europäische Rechtsentwicklung ebenda. Veröffentlichungen zur Geschichte der europäischen Integration, zur Geschichte der europäischen Identität sowie zur österreichischen Geschichte.