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Inhaltsangabe
Optical Calculations and Optical Instruments, an Introduction.- Méthode de calcul des systèmes optiques.- A. Introduction.- B. Une méthode de calcul.- C. Conclusion.- Theorie der geometrisch-optischen Bildfehler.- Das photographische Objektiv.- Spiegelnde Prismen.- Teleskope.- A. Optische Abbildung in Fernrohren.- B. Optische Systeme für Fernrohre.- C. Realisierung der optischen Elemente.- D. Konstruktionselemente der Fernrohre.- Literatur.- Mikroskope.- I. Grundlagen.- II. Normale Mikroskope.- III. Besondere Geräte.- IV. Stereoskopische Mikroskope.- Literatur.- Diffraction Gratings.- A. General survey.- B. Spectroscopic gratings.- C. Modulated interference-gratings in wave-front reconstruction imaging and optical image filtering.- Optische Meßmethoden.- I. Einleitung.- II. Allgemeine Grundsätze.- III. Urnormal Lichtwellenlänge.- IV. Mikroskopische Geräte und Verfahren.- V. Fernrohrgeräte und Verfahren zur Fluchtungsprüfung.- VI. Interferenzmeßmethoden für die mikroskopische Oberflächenprüfung.- Literatur.- Sachverzeichnis (Deutsch-Englisch).- Subject Index (English-German).- Index (Français).
Optical Calculations and Optical Instruments, an Introduction.- Méthode de calcul des systèmes optiques.- A. Introduction.- B. Une méthode de calcul.- C. Conclusion.- Theorie der geometrisch-optischen Bildfehler.- Das photographische Objektiv.- Spiegelnde Prismen.- Teleskope.- A. Optische Abbildung in Fernrohren.- B. Optische Systeme für Fernrohre.- C. Realisierung der optischen Elemente.- D. Konstruktionselemente der Fernrohre.- Literatur.- Mikroskope.- I. Grundlagen.- II. Normale Mikroskope.- III. Besondere Geräte.- IV. Stereoskopische Mikroskope.- Literatur.- Diffraction Gratings.- A. General survey.- B. Spectroscopic gratings.- C. Modulated interference-gratings in wave-front reconstruction imaging and optical image filtering.- Optische Meßmethoden.- I. Einleitung.- II. Allgemeine Grundsätze.- III. Urnormal Lichtwellenlänge.- IV. Mikroskopische Geräte und Verfahren.- V. Fernrohrgeräte und Verfahren zur Fluchtungsprüfung.- VI. Interferenzmeßmethoden für die mikroskopische Oberflächenprüfung.- Literatur.- Sachverzeichnis (Deutsch-Englisch).- Subject Index (English-German).- Index (Français).
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