Peter Baumann

Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen (eBook, PDF)

Simulation mit PSPICE

• Format: PDF

Produktbeschreibung

Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, Z-Diode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler.

Der Inhalt

Halbleiterdioden - Bipolartransistoren - Sperrschicht-Feldeffekttransistoren - Mos-Feldeffekttransisotoren - Leistungs-Mos-Feldeffekttransistor - Operationsverstärker - Optokoppler

Die Zielgruppen

Studierende der Studiengänge Elektrotechnik sowie Technische und Angewandte Physik an Fachhochschulen und Technischen Universitäten

Ingenieure und Physiker in der Praxis

Der Autor

Prof. Dr.-Ing. habil. Peter Baumann ist Lehrbeauftragter für das Modul Elektronik an der Hochschule Bremen.

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Produktdetails

• Verlag: Springer Fachmedien Wiesbaden
• Seitenzahl: 135
• Erscheinungstermin: 28. September 2012
• Deutsch
• ISBN-13: 9783834824950
• Artikelnr.: 37803529

Autorenporträt

Prof. Dr.-Ing. habil. Peter Baumann ist Lehrbeauftragter für das Modul Elektronik an der Hochschule Bremen.