Aus dem Inhalt
- Optische Grundlagen für Grenzflächen und Volumina von Festkörpern
- Spektroskopie an opaken und transparenten Ein- und Zwei-Schichten-Systemen im ultravioletten, sichtbaren und infraroten Wellenlängenbereich
- Optische, berührungsfreie Bestimmung materialspezifischer auch komplexwertiger physikalischer Größen
- Opto-elektrische Bestimmung typischer Halbleiterkenngrößen
- Strom-Spannungs-Messungen an Dünnschichtsolarzellen mit Auflösung der Abhängigkeiten von Umgebungsparametern
- Bestimmung wirtschaftlich relevanter Größen, wie Quanteneffizienz, Leistungsdichte, Wirkungsgrad etc.
Die Zielgruppen
- Wissenschaftler in Industrie und Technik, Ingenieure in der Entwicklung, beratende Ingenieure
- Wissenschaftler und Dozenten an Forschungseinrichtungen,PostDocs, Doktoranden
- Studierende der Fächer Physik, Elektrotechnik, Wirtschaftsingenieurwesen, regenerative Energietechnik
Der Autor
Dr. Andreas Stadler forschte und lehrte an zahlreichen europäischen Universitäten (u. a. München, Hamburg, Wien, Salzburg) und Forschungseinrichtungen (u. a. Fraunhofer, Max-Planck, Christian-Doppler) in der allgemeinen Physik und der Halbleiterphysik und war in der staatlichen Forschungsförderung tätig.
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